Cuốn sách Truy cập Mở này giới thiệu cho người đọc nhiều kỹ thuật mới để nâng cao và tối ưu hóa độ tin cậy trong các hệ thống nhúng, những mối quan ngại nổi bật nhất về độ tin cậy theo quan điểm ngày nay và tóm tắt lại một cách đại khái những tiến bộ trong cộng đồng cho đến nay. Không giống như những cuốn sách khác chỉ tập trung vào một mức độ trừu tượng duy nhất như cấp độ mạch hoặc cấp độ hệ thống, trọng tâm của cuốn sách này là giải quyết các thách thức về độ tin cậy khác nhau ở các cấp độ khác nhau bắt đầu từ cấp độ vật lý cho đến cấp độ hệ thống (đa lớp). Cuốn sách nhằm mục đích chứng minh cách đề xuất giải pháp đồng thiết kế phần cứng/phần mềm mới để giảm thiểu một cách hiệu quả sự suy giảm độ tin cậy như lão hóa bóng bán dẫn, biến đổi bộ xử lý, hiệu ứng nhiệt độ, lỗi phần mềm, v.v. các phương pháp và mô hình lớp liên quan đến độ tin cậy của các hệ thống nhúng; Mô tả các phương pháp tiếp cận xuyên lớp có thể nâng cao độ tin cậy thông qua các kỹ thuật được thiết kế chủ động liên quan đến các kỹ thuật ở các lớp khác; Giải thích sự thích ứng trong thời gian chạy và các khái niệm/phương tiện tự tổ chức để đạt được khả năng phục hồi lỗi trong nhiều hệ thống cốt lõi phức tạp trong tương lai.

Abstract:

This Open Access book introduces readers to many new techniques for enhancing and optimizing reliability in embedded systems, which have emerged particularly within the last five years. This book introduces the most prominent reliability concerns from today’s points of view and roughly recapitulates the progress in the community so far. Unlike other books that focus on a single abstraction level such circuit level or system level alone, the focus of this book is to deal with the different reliability challenges across different levels starting from the physical level all the way to the system level (cross-layer approaches). The book aims at demonstrating how new hardware/software co-design solution can be proposed to ef-fectively mitigate reliability degradation such as transistor aging, processor variation, temperature effects, soft errors, etc. Provides readers with latest insights into novel, cross-layer methods and models with respect to dependability of embedded systems; Describes cross-layer approaches that can leverage reliability through techniques that are pro-actively designed with respect to techniques at other layers; Explains run-time adaptation and concepts/means of self-organization, in order to achieve error resiliency in complex, future many core systems.

Ngôn ngữ:	En
Tác giả:	Henkel, Jörg, ; Dutt, Nikil
Thông tin nhan đề:	Dependable Embedded Systems
Nhà xuất bản:	Springer Nature
Loại hình:	Tài nguyên giáo dục mở / Bộ sưu tập: Công nghệ thông tin
Bản quyền:	http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Nguồn gốc:	https://directory.doabooks.org/handle/20.500.12854/33101
Mô tả vật lý:	608p.
Năm xuất bản:	2021