Atomic-force Microscopy and Its Applications

Loại tài liệu: Tài liệu số - Tài nguyên giáo dục mở / Bộ sưu tập: Kỹ thuật hóa học

Tác giả: Tański, Tomasz (editor), Ziębowicz, Bogusław (editor), Staszuk, Marcin (editor)

Nhà xuất bản: IntechOpen

Năm xuất bản: 2019

Tải ứng dụng tại các liên kết sau để xem đầy đủ tài liệu.

Tóm tắt nội dung

Kính hiển vi lực nguyên tử là một kỹ thuật phân tích bề mặt được sử dụng trong không khí, chất lỏng hoặc chân không để tạo ra hình ảnh địa hình có độ phân giải rất cao của bề mặt, xuống đến độ phân giải nguyên tử. Cuốn sách này không chỉ dành cho sinh viên mà còn dành cho các kỹ sư chuyên nghiệp đang làm việc trong ngành cũng như các chuyên gia. Cuốn sách này nhằm mục đích cung cấp cho người đọc cái nhìn tổng quan toàn diện về các xu hướng mới, kết quả nghiên cứu và sự phát triển của kính hiển vi lực nguyên tử. Các chương trong cuốn sách này được viết bởi các nhà nghiên cứu và chuyên gia được kính trọng và nổi tiếng từ nhiều quốc gia khác nhau. Chúng tôi hy vọng rằng sau khi nghiên cứu cuốn sách này, bạn sẽ có kiến ​​thức khách quan về các ứng dụng có thể có của kính hiển vi lực nguyên tử trong nhiều khía cạnh khoa học của nền văn minh của chúng ta.

Abstract:

Atomic force microscopy is a surface analytical technique used in air, liquids or a vacuum to generate very high-resolution topographic images of a surface, down to atomic resolution. This book is not only for students but also for professional engineers who are working in the industry as well as specialists. This book aims to provide the reader with a comprehensive overview of the new trends, research results and development of atomic force microscopy. The chapters for this book have been written by respected and well-known researchers and specialists from different countries. We hope that after studying this book, you will have objective knowledge about the possible uses of atomic force microscopy in many scientific aspects of our civilisation.

Ngôn ngữ:eng
Tác giả:Tański, Tomasz (editor), Ziębowicz, Bogusław (editor), Staszuk, Marcin (editor)
Thông tin nhan đề:Atomic-force Microscopy and Its Applications
Nhà xuất bản:IntechOpen
Loại hình:Tài nguyên giáo dục mở / Bộ sưu tập: Kỹ thuật hóa học
Bản quyền:https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Nguồn gốc:https://directory.doabooks.org/handle/20.500.12854/130562
Mô tả vật lý:114p.
Năm xuất bản:2019

Sử dụng ứng dụng Libol Bookworm quét QRCode này để mượn và đọc tài liệu)

(Lưu ý: Sử dụng ứng dụng Bookworm để xem đầy đủ tài liệu. Bạn đọc có thể tải Bookworm từ App Store hoặc Google play với từ khóa "Libol Bookworm”)