Cuốn sách này bao gồm các chương mô tả các chế độ kính hiển vi lực nguyên tử tiên tiến (AFM) và quang phổ Raman. Nó cũng cung cấp hiểu biết sâu sắc về các chế độ AFM tiên tiến và quang phổ Raman để mô tả các vật liệu khác nhau. Tập sách này là một nguồn tài nguyên hữu ích cho nhiều độc giả, bao gồm các nhà khoa học, kỹ sư, sinh viên sau đại học, nghiên cứu sinh sau tiến sĩ và các chuyên gia khoa học làm việc trong các lĩnh vực chuyên môn như AFM, quang điện, vật liệu 2D, ống nano carbon, vật liệu nano và quang phổ Raman.

Abstract:

This book contains chapters that describe advanced atomic force microscopy (AFM) modes and Raman spectroscopy. It also provides an in-depth understanding of advanced AFM modes and Raman spectroscopy for characterizing various materials. This volume is a useful resource for a wide range of readers, including scientists, engineers, graduate students, postdoctoral fellows, and scientific professionals working in specialized fields such as AFM, photovoltaics, 2D materials, carbon nanotubes, nanomaterials, and Raman spectroscopy.

Ngôn ngữ:	eng
Tác giả:	Shakher Pathak, Chandra, Kumar, Samir
Thông tin nhan đề:	Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization
Nhà xuất bản:	IntechOpen
Loại hình:	Tài nguyên giáo dục mở / Bộ sưu tập: Kỹ thuật hóa học
Bản quyền:	https://creativecommons.org/licenses/by/3.0/
Nguồn gốc:	https://directory.doabooks.org/handle/20.500.12854/90111
Mô tả vật lý:	274p.
Năm xuất bản:	2022