Các phương pháp đo quang học ngày càng trở nên quan trọng đối với việc sản xuất các thành phần có độ chính xác cao và đảm bảo chất lượng. Nhu cầu ngày càng tăng có thể được đáp ứng bằng các hệ thống hình ảnh hiện đại với quang học tiên tiến, chẳng hạn như máy ảnh trường sáng. Công trình này khám phá việc sử dụng chúng trong phép đo độ lệch của các bề mặt phản chiếu. Công trình trình bày những cải tiến trong các kỹ thuật hiệu chuẩn và tách pha, cho phép độ chính xác tái tạo bề mặt cao chỉ bằng một máy ảnh trường sáng đơn.

Abstract:

Optical measurement methods are becoming increasingly important for high-precision production of components and quality assurance. The increasing demand can be met by modern imaging systems with advanced optics, such as light field cameras. This work explores their use in the deflectometric measurement of specular surfaces. It presents improvements in phase unwrapping and calibration techniques, enabling high surface reconstruction accuracies using only a single monocular light field camera.

Ngôn ngữ:	eng
Tác giả:	Uhlig, David
Thông tin nhan đề:	Light Field Imaging for Deflectometry
Nhà xuất bản:	KIT Scientific Publishing
Loại hình:	Tài nguyên giáo dục mở / Bộ sưu tập: Cơ khí - Chế tạo máy
Bản quyền:	https://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0/
Nguồn gốc:	https://library.oapen.org/handle/20.500.12657/76521
Mô tả vật lý:	284p.
Năm xuất bản:	2023