Phép đo ở tần số sóng milimet dễ bị ảnh hưởng ký sinh làm sai lệch kết quả tổng thể. Đặc biệt, việc sử dụng đầu dò RF sẽ gây ra các biến dạng không xác định, ngay cả sau khi thiết lập phép đo được hiệu chỉnh. Cuốn sách này nghiên cứu những biến dạng này dựa trên mô phỏng trường điện từ của mạch tích hợp kết hợp với các mô hình đầu dò RF đã sử dụng. Điều này cho phép hiểu được các biến dạng quan sát được và giải quyết thành công gốc rễ của các biến dạng.

Abstract:

Measurement at millimeter-wave frequencies are prone to parasitic effects which distort the overall results. Especially the use of RF probes introduces unknown distortions, even after the measurement setup is calibrated. This book investigates these distortions based on electromagnetic field simulations of integrated circuits in conjunction with models of the used RF probes. This allows to comprehend the observed distortions and successfully resolve the root of the distortions.

Ngôn ngữ:	En
Tác giả:	Müller, Daniel
Thông tin nhan đề:	RF Probe-Induced On-Wafer Measurement Errors in the Millimeter-Wave Frequency Range
Nhà xuất bản:	KIT Scientific Publishing
Loại hình:	Tài nguyên giáo dục mở / Bộ sưu tập: Điện tử - Viễn thông
Bản quyền:	https://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0/
Nguồn gốc:	https://www.ksp.kit.edu/site/books/m/10.5445/KSP/1000084392/
Mô tả vật lý:	180p.
Năm xuất bản:	2018